Corso di
MISURE ED ANALISI DATI

Scheda

Codice8039180
Denominazione ingleseMEASUREMENTS AND DATA ANALYSIS
LinguaItaliano
CFU6
SSDING-INF/07
Fruito daMISURE ED ANALISI DATI (12 CFU)

Docente

Prof. Marcello Salmeri

Programma

Cenni storici delle misure.

Il numero come misura. I primi campioni di lunghezza. Le misure di superficie. I campioni di volume e peso. La misura del tempo. Esigenza di un sistema universale. La nascita del sistema metrico. La misura di Eratostene del meridiano.

Il Sistema Internazionale di Unità di Misura.

L'evoluzione storica. Il Sistema Internazionale di Unità di Misura SI. Le definizioni delle unità base. Unità derivate. Unità non del Sistema Internazionale. Prefissi. Regole di scrittura. Nuovo Sistema Internazionale.

Definizioni metrologiche.

Storia della normativa. Definizioni metrologiche di base. Campioni di misura. I metodi di acquisizione. Metodi diretti e indiretti. Risultato della misurazione. Misure singole e ripetute. Errori di misura. Valore vero di una grandezza. Ripetibilità e riproducibilità. Accuratezza, giustezza e precisione. Strumenti di misura. Curva di risposta e taratura di uno strumento. Riferibilità. Sensibilità di uno strumento. Risoluzione di uno strumento. Caratteristiche metrologiche di uno strumento.

Rappresentazione e analisi di dati di misura.

Origini della statistica. Basi di statistica descrittiva. Visualizzazione di dati indipendenti. Indici di posizione. Indici di dispersione. Indici per dati raggruppati e trasformati. Forma della distribuzione. Visualizzazione di dati dipendenti. Interpolazione e approssimazione. Metodi di interpolazione. Metodi di approssimazione. Correlazione di dati. Regressione lineare. Regressione polinomiale. Metodi di linearizzazione. Modelli di regressione logistica.

Probabilità e distribuzioni.

Cenni di probabilità e distribuzioni. Teoria dei campioni.

Stima dei parametri e test statistici.

Intervalli di confidenza per la media. Test di ipotesi. Test di ipotesi sulla media. Test di adattamento chi^2. Test di adattamento di Kolmogorov-Smirnov. Test di indipendenza. Metodo della massima verosimiglianza. Metodo Monte Carlo. Generatori di numeri (pseudo)casuali.

Rappresentazione e propagazione dell'incertezza.

Fonti di incertezza. Modello deterministico di stima dell'incertezza. Modello probabilistico di stima dell'incertezza. Funzione di una variabile aleatoria. Propagazione della distribuzione di probabilità.

Qualità e prestazioni.

Misure e qualità. Teoria della decisione. Processo inferenziale. Verifica di conformità. Valutazione statistica di prestazioni. Ottimizzazione delle prestazioni.

Lezioni 2021-22

Il corso si tiene nel secondo semestre.
L'orario sarà disponibile prima dell'inizio delle lezioni.

Statistiche

Questa sezione riassume le statistiche relative alle votazioni di profitto ottenute dagli studenti dall'anno accademico 2010-11 ad oggi. I dati sono aggiornati frequentemente, ma non in tempo reale. Essi si riferiscono comunque soltanto agli esami sostenuti da studenti iscritti al Corso di Laurea o Laurea Magistrale in Ingegneria Elettronica.
Nel calcolo sono inclusi gli esami dello stesso corso con diverso codice.
Il 30 e lode è considerato come 31 nel calcolo della media e dello scarto quadratico medio.
StatisticaValore
Numero esami39
Voto minimo25
Voto massimo30 e lode
Media dei voti29,74
Scarto dei voti1,40
Media votazioni per anno accademico
Anno accademicoEsamiMedia
2017-18429,75
2015-161229,58
2014-15329,00
2013-141729,88
2012-13330,33