Attività formativa
Corso di
MISURE ELETTRICHE 1
Scheda
Codice | 8037502 |
Denominazione inglese | ELECTRICAL MEASUREMENTS 1 |
Lingua | Italiano |
CFU | 6 |
SSD | ING-INF/07 |
Docente
Prof. Giuseppe FazioProgramma
Richiami di teoria degli errori.
Cenni su analisi del segnale.
Generalità sul significato delle trasformate.
DFT, FFT, STFT.
Risoluzione in frequenza.
Finestrazione (Hanning, flat top, etc.).
Risposta impulsiva e funzione di trasferimento.
Rumore pseudo random.
Medie, auto e cross correlazione, coerenza, etc.
Conversione A/D.
Teorema del campionamento, correlazione tra errore ammesso e frequenza massima.
Sovracampionamento, noise shaping.
Sistemi di acquisizione, schema a blocchi.
Convertitori sigma-delta.
Bit significativi.
Problemi di interconnessione.
Richiami sulle linee di trasmissione.
Ground loop.
Sorgenti di disturbo, tipi di accoppiamento (tratto di circuito comune, differenza di potenziale tra le terre, accoppiamento dovuto a mutue induttanze, accoppiamento dovuto a capacità parassite, accoppiamento elettromagnetico), tensione di rumore di modo normale e di modo comune.
Standard 4 – 20 mA.
Stadi di ingresso.
Amplificatore per strumentazione.
Amplificatore ad isolamento.
Strumentazione.
Voltmetri: a valor medio, di picco, picco picco, RMS, etc.
Oscilloscopi. One shot: caratteristiche schemi a blocchi. Per segnali ripetitivi, campionamento coerente, porta di campionamento, caratteristiche schemi a blocchi.
Probe di tensione. Terminati (50 ohm). Attenuati. Non attenuati. Attivi. Differenziali.
Network analyzer: caratteristiche, principi di funzionamento, schemi a blocchi.
Analizzatori di spettro: caratteristiche principi di funzionamento schemi a blocchi carta di accordo analizzatori a conversioni multiple cenni sui filtri YIG.
Analizzatore di stati: caratteristiche principi di funzionamento schemi a blocchi.
Tester per circuiti integrati e per schede, cenni.
Lezioni 2024-25
Il corso si tiene nel secondo semestre.L'orario sarà disponibile prima dell'inizio delle lezioni.
Note
Link pagina web del corsoStatistiche
Questa sezione riassume le statistiche relative alle votazioni di profitto ottenute dagli studenti dall'anno accademico 2010-11 ad oggi. I dati sono aggiornati frequentemente, ma non in tempo reale. Essi si riferiscono comunque soltanto agli esami sostenuti da studenti iscritti al Corso di Laurea o Laurea Magistrale in Ingegneria Elettronica.Nel calcolo sono inclusi gli esami dello stesso corso con diverso codice.
Il 30 e lode è considerato come 31 nel calcolo della media e dello scarto quadratico medio.
Statistica | Valore |
---|---|
Numero esami | 256 |
Voto minimo | 18 |
Voto massimo | 30 e lode |
Media dei voti | 22,96 |
Scarto dei voti | 3,19 |
Anno accademico | Esami | Media |
---|---|---|
2023-24 | 16 | 22,37 |
2022-23 | 19 | 20,47 |
2021-22 | 27 | 23,40 |
2020-21 | 32 | 23,28 |
2019-20 | 22 | 23,77 |
2018-19 | 17 | 21,82 |
2017-18 | 26 | 23,50 |
2016-17 | 24 | 22,41 |
2015-16 | 22 | 23,09 |
2014-15 | 17 | 24,58 |
2013-14 | 20 | 23,25 |
2012-13 | 13 | 23,23 |
2011-12 | 1 | 18,00 |